标准编号：GB/T 32282-2015
标准名称：氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法
标准类型：推荐性
标准英文：Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
标准状态：现行
发布日期：2016-11-01
实施日期：2015-12-10
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：冶金
国内标准分类号：H21
国际标准分类：77.040
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 苏州纳维科技有限公司
起草人：曾雄辉 张燚 刘争晖 邱永鑫 董晓鸣牛牧童王建峰徐科