标准编号：GB/T 36613-2018
标准名称：发光二极管芯片点测方法
标准类型：推荐性
标准英文：Probe test method for light emitting diode chips
标准状态：现行
发布日期：2019-01-01
实施日期：2018-09-17
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：电子学
国内标准分类号：L45
国际标准分类：31.260
技术归口：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准类别：方法
代替标准：
起草单位：三安光电股份有限公司中国电子技术标准化研究院 厦门市三安光电科技有限公司 广州赛西标准检测研究院有限公司
起草人：蔡伟智 梁奋 吕艳 金威 时军朋 刘秀娟李国煌邵晓娟周钢