标准编号：GB/T 11685-2003
标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
标准类型：推荐性
标准英文：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
标准状态：现行
发布日期：2004-01-01
实施日期：2003-07-07
标准语言：中文
发布部委：
国际分类：能源和热传导工程
国内标准分类号：F80
国际标准分类：27.120.01
技术归口：全国核仪器仪表标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准类别：方法
代替标准：GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988
起草单位：核工业标准化研究所
起草人：