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声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法GB/T 30118-2013
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半导体设备电源接口GB/T 15872-2013
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电子级水GB/T 11446.1-2013
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电子级水中总有机碳的测试方法GB/T 11446.8-2013
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电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法GB/T 11446.5-2013
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半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范GB/T 15877-2013
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电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法GB/T 11446.7-2013
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电子设备用固定电容器 第19-1部分：空白详细规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZGB/T 16467-2013
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高压并联电容器装置的通用技术要求GB/T 30841-2014