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半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理GB/T 14115-1993
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半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理GB/T 14114-1993
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半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范（可供认证用）GB/T 14119-1993
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内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰GB/T 14024-1992
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半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理GB/T 14031-1992
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半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理GB/T 14032-1992
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半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理GB/T 14029-1992
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半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T 14030-1992
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阴极射线管X射线辐射测试方法GB/T 14011-1992
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电子设备用固定电容器 第6部分:空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平 E（可供认证用）GB/T 14005-1992
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电子设备用固定电容器 第6部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器（可供认证用）GB/T 14004-1992
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辉光放电显示管总规范（可供认证用）GB/T 13945-1992
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荧光显示管总规范（可供认证用）GB/T 13943-1992
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变像管和像增强管测试方法GB/T 14184-1993
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变像管和像增强管空白详细规范（可供认证用）GB/T 14183-1993
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变像管和像增强管总规范（可供认证用）GB/T 14182-1993
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充气稳压管总规范（可供认证用）GB/T 14186-1993
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半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法GB/T 14862-1993
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插入式电子元器件用插座及其附件总规范GB/T 15176-1994
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半导体集成电路 电压调整器系列和品种GB/T 4376-1994