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纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定GB/T 42977-2023
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电子组装件焊接的返工、改装和返修工艺要求GB/T 43021-2023
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有质量评定的压电滤波器 第4部分：分规范 能力批准GB/T 22317.4-2023
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有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第2部分：使用指南GB/T 43186.2-2023
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有质量评定的压电滤波器 第4-1部分：空白详细规范 能力批准GB/T 22317.401-2023
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射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南GB/T 43023-2023
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集成电路 CMOS图像传感器测试方法GB/T 43063-2023
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有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第1部分 ：总规范GB/T 43186.1-2023
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元器件位移损伤试验方法GB/T 42969-2023
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半导体集成电路 视频编解码电路测试方法GB/T 42970-2023
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压电、介电和静电振荡器的测量技术 第2部分:相位抖动测量方法GB/T 43024.2-2023
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高压电源变换器模块测试方法GB/T 43027-2023
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半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器GB/T 20870.2-2023
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集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义GB/T 42968.1-2023
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晶体盒总规范GB/T 8553-2023
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电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器GB/T 16515-2023
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声表面波谐振器 第1部分：总规范GB/T 22318.1-2023
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混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器GB/T 43041-2023
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声表面波谐振器 第2部分：使用指南GB/T 22318.2-2023