-
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法GB/T 42968.8-2023
-
微波电路 检波器测试方法GB/T 42972-2023
-
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器GB/T 42973-2023
-
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）GB/T 42974-2023
-
半导体集成电路 驱动器测试方法GB/T 42975-2023
-
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量GB/T 22319.6-2023
-
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定GB/T 42977-2023
-
微波半导体集成电路 放大器GB/T 42837-2023
-
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器GB/T 42839-2023
-
半导体集成电路 霍尔电路测试方法GB/T 42838-2023
-
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法GB/T 42895-2023
-
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法GB/T 42896-2023
-
微机电系统（MEMS）技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法GB/T 42897-2023
-
半导体集成电路 PWM控制器测试方法GB/T 43061-2023
-
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法GB/T 42976-2023
-
半导体器件 分立器件 第7部分：双极型晶体管GB/T 4587-2023
-
半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管GB/T 15651.6-2023
-
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法GB/T 43040-2023
-
印制板及印制板组装件的平整度控制要求GB/T 43059-2023
-
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）GB/T 4937.26-2023