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液晶显示器件 第6-4 部分：测试方法 带动态背光的液晶显示模块GB/T 18910.64-2025
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液晶显示器件 第10-3部分：环境、耐久性和机械试验方法 玻璃强度和可靠性GB/T 18910.103-2025
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硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范GB/T 22452-2025
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平板显示器基板玻璃测试方法 第4部分：力学性能GB/T 45505.4-2025
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激光用非线性光学晶体元件性能测量方法GB/T 22453-2025
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电子和电气设备用连接器 产品要求 第8-101部分：电源连接器 2芯、3芯40 A功率加2芯信号塑料外壳屏蔽密封连接器详细规范GB/T 18501.8101-2025
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激光材料中激活离子浓度测试方法GB/T 45729-2025
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有机发光二极管显示器件 第6-2部分：测试方法 视觉质量和亮室性能GB/T 20871.62-2025
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电子装联技术 第4部分：阵列型封装表面安装器件焊点的耐久性试验方法GB/T 45713.4-2025
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质量评定体系 第2部分：电子元器件及封装件检验用抽样方案的选择和使用GB/T 33772.2-2025
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电子和电气设备用连接器 产品要求 第8-100部分：电源连接器 2芯、3芯20 A功率加2芯信号塑料外壳屏蔽密封连接器详细规范GB/T 18501.8100-2025
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印制电路板材料 第5-4部分： 涂覆或非涂覆的导电箔和膜分规范 导电浆料GB/T 45714.54-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验GB/T 45716-2025
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半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿（TDDB）试验GB/T 45718-2025
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半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验GB/T 45719-2025
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半导体器件 恒流电迁移试验GB/T 45722-2025
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印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化GB/T 45723-2025
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半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验GB/T 45720-2025
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半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验GB/T 45721.1-2025
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氯化钠光学元件GB/T 45908-2025